发布时间:2022-10-25
FTS2000电子器件老化测试实验系统,是针对各种分立元件(二极管、三极管),电源模块,继电器,接触器等电子器件及产品的动态老化测试、可靠性实验、性能指标测试等应用而开发的实验系统。
FTS2000测试系统操作简便,可对多个分组批量的电子器件产品同时动态加电、拉载、控制,进行长时间的、连续的测试控制,及数据统计分析。
FTS2000系统的架构具有良好的扩展性,配置灵活度高,可提供定制的测试项,帮助各类用户轻松完成复杂的实验。
FTS2000电子器件老化测试实验系统主要特点:
FTS2000电子器件老化测试实验系统系统软件:
FTS2000系统根据客户需求,为使用者提供了一套适合于广泛应用的开放式软体架构。用户可编辑测试步骤,同时控制单台或多台测试设备。
推荐测试仪器:
一,直流电源系列
FTL多路可编程线性直流电源
FTP3000系列宽范围小功率可编程直流电源(900W,1500W)
FTP系列宽范围可编程直流电源(2kW~6.5kW)
二,直流电子负载系列
FT6400A系列中功率电子负载(900W-3000W)
FT6100系列多通道电子负载阵列(45W*12CH/150W*12CH/300W*6CH)
赛仪欧电子FTS2000电子器件老化测试实验系统,具备高精度直流电源和电子负载 搭配各类高低温试验箱及测试仪器,可实现对元器件的加速老化测试。